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    AP-TS冷熱衝擊試(shì)驗箱

    冷熱衝(chōng)擊試驗箱廠家選擇東莞市柳沁檢測儀器有限公司規模(mó)大,產量大、銷量也大。生產(chǎn)高低溫衝擊試驗箱的人員基本上平均有10年以上的工作經驗,並擁有一(yī)批(pī)先進的(de)生產設備,其中主要包含(hán):折彎機、剪板機、 剪(jiǎn)角機、電鑽(zuàn)、自動衝床、減(jiǎn)角機,噴(pēn)塗老化房(fáng)、設備(bèi)成型後擁(yōng)有一批(pī)高科技(jì)人才從焊接、組裝、製冷安(ān)裝(zhuāng)、電路安裝、調(diào)試等環節(jiē),出廠具備出廠檢(jiǎn)驗書,檢測設備(bèi)先進工具,九(jiǔ)點檢測儀器等相(xiàng)關設備。隨時(shí)歡迎(yíng)大家的(de)到訪做(zuò)實際的

    更新時間:2024-07-10
    3AP-CJ-80A智(zhì)能高低溫冷熱循環交(jiāo)變(biàn)衝擊試(shì)驗機

    智(zhì)能高低溫冷熱循(xún)環交變衝(chōng)擊試驗機供應商適(shì)用於半導體、電子(zǐ)電器零組件、化學材料、金屬材料(liào)、自動(dòng)化零部(bù)件、通訊組件、國防工業、航天工業(yè)、BGA、PCB基(jī)板、電子(zǐ)芯片IC、及(jí)高(gāo)分子材料之(zhī)物理變化的理想測試設(shè)備(bèi)。

    更新時(shí)間:2024-04-07
    3AP-CJ-80A塑料材料耐低溫衝擊機供(gòng)應(yīng)商

    塑料材料耐(nài)低溫(wēn)衝擊機供應商適用於半導體、電子電器零組件、化學材(cái)料、金屬材料(liào)、自動化零部件、通訊組(zǔ)件、國防工業、航天工(gōng)業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯(xīn)片IC、及高分子材(cái)料之物理變化的理想測試設備。

    更新時間:2024-04-02
    3AP-CJ-80A研究(jiū)所常用溫度衝擊試驗箱

    研究所(suǒ)常用溫度衝擊(jī)試驗箱適用於半導體、電子電器零組件(jiàn)、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分(fèn)子材料之物(wù)理變化的理想測試設備。

    更新時間:2024-03-26
    3AP-CJ-80A杭州高低溫衝擊試(shì)驗箱銷售(shòu)公司

    杭(háng)州高(gāo)低(dī)溫衝擊試驗(yàn)箱銷售公司適用於半導體、電(diàn)子電器零組(zǔ)件、化學材料(liào)、金(jīn)屬材(cái)料、自(zì)動化零部件、通訊組件、國防(fáng)工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高(gāo)分子材料之物理變(biàn)化的(de)理想測試設備。

    更新(xīn)時間:2024-03-25
    3AP-CJ-80A半導體芯片行業冷(lěng)熱衝擊實驗機

    半導體芯片行業(yè)冷熱(rè)衝擊實驗(yàn)機適用於(yú)半(bàn)導(dǎo)體、電子電器零組件、化學材料、金屬(shǔ)材(cái)料、自動化零部(bù)件(jiàn)、通(tōng)訊組件、國防(fáng)工業、航(háng)天工業、BGA、PCB基板、電子(zǐ)芯片IC、及高分子材料之物(wù)理變化的理想測試設備。

    更新(xīn)時間:2024-03-25
    3AP-CJ-80A鋰電池(chí)電(diàn)車電池冷熱衝擊實驗(yàn)箱

    鋰電池電車電池冷熱衝擊實驗(yàn)箱適用(yòng)於(yú)半導(dǎo)體(tǐ)、電子電器(qì)零組件、化學(xué)材料(liào)、金屬材料、自動化零(líng)部件、通訊組件、國防工業、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分(fèn)子(zǐ)材料之物理變(biàn)化的理想測試(shì)設備(bèi)。

    更新時間:2024-03-25
    3AP-CJ-80A高低溫衝擊試(shì)驗箱銷(xiāo)售公司

    高低溫(wēn)衝(chōng)擊(jī)試驗箱銷售(shòu)公司適用於半導體、電子電器零組件(jiàn)、化(huà)學(xué)材料、金屬材料(liào)、自動化零部件、通(tōng)訊組件、國防工業(yè)、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及(jí)高分子材料之物理(lǐ)變化的理想測試設(shè)備。

    更新時(shí)間:2024-03-22
    3AP-CJ-80A手機電腦芯片冷熱衝擊實驗箱

    手機電腦(nǎo)芯片(piàn)冷(lěng)熱衝擊實驗箱適用於半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料、自動(dòng)化(huà)零部件、通訊組件(jiàn)、國防工(gōng)業、航天(tiān)工業、BGA、PCB基(jī)板、電子芯片IC、及高分子(zǐ)材料(liào)之物理變化(huà)的理想(xiǎng)測(cè)試設備。

    更新時(shí)間:2024-03-22
    3AP-CJ-80APCB線路(lù)板冷(lěng)熱衝擊實驗箱(xiāng)

    PCB線路板(bǎn)冷熱衝擊實驗箱適(shì)用於半(bàn)導體、電(diàn)子電器零(líng)組件、化學材料(liào)、金屬材料、自動化零(líng)部件、通訊組(zǔ)件、國防工業、航天工(gōng)業、BGA、PCB基(jī)板、電子芯片(piàn)IC、及高分子材料之物理變化的理想測(cè)試(shì)設(shè)備。

    更新時(shí)間:2024-03-21
    3AP-CJ-80A半(bàn)導體熱轉(zhuǎn)印高低溫(wēn)冷熱衝擊試驗機

    半導(dǎo)體熱(rè)轉印高低溫冷熱(rè)衝擊試驗機適用(yòng)於半導體、電子電器零組(zǔ)件、化(huà)學材(cái)料、金屬材料(liào)、自(zì)動化零部件、通訊組件、國防工業、航(háng)天工業、BGA、PCB基(jī)板、電(diàn)子芯片IC、及高分子材(cái)料之物理(lǐ)變化的理想測試設備。

    更新時間:2024-03-19
    3AP-CJ-80A快速溫變循(xún)環衝擊試驗機

    快速(sù)溫變循環衝擊試驗機用於半導體、電子電器零組件、化學材料(liào)、金屬材料、自動化零部件、通訊(xùn)組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板(bǎn)、電(diàn)子芯片IC、及(jí)高分子材料(liào)之(zhī)物理變化的理想測試(shì)設備。

    更新時間:2024-03-18
    3AP-CJ-80A實驗室(shì)用冷熱衝擊試驗機

    實驗(yàn)室用冷熱衝擊試驗機用於半(bàn)導(dǎo)體、電子電器零組(zǔ)件(jiàn)、化(huà)學(xué)材料、金屬(shǔ)材料、自動化零(líng)部件、通訊組件、國防工(gōng)業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之(zhī)物理變化的理(lǐ)想(xiǎng)測(cè)試設備。

    更(gèng)新時間:2024-03-18
    3AP-CJ-80APCB線路板(bǎn)高低溫衝(chōng)擊試驗箱

    PCB線路(lù)板高(gāo)低溫衝擊試(shì)驗箱適用(yòng)於(yú)半導體、電子電器零組件、化學材料、金屬材料(liào)、自動化零部件、通訊組(zǔ)件、國防(fáng)工業(yè)、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之(zhī)物理變化的理想測試設備。

    更新(xīn)時間:2024-03-16
    3AP-CJ-80A兩箱上冷下(xià)熱溫(wēn)度衝擊試驗箱

    兩(liǎng)箱(xiāng)上冷下(xià)熱溫度(dù)衝擊試驗箱適用於半導體、電子電器零(líng)組件(jiàn)、化學材料、金屬(shǔ)材料、自動(dòng)化(huà)零部(bù)件、通(tōng)訊組件、國防工業、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯(xīn)片IC、及高分子(zǐ)材料(liào)之(zhī)物理變化的理(lǐ)想(xiǎng)測試(shì)設備。

    更新時間:2024-03-16
    3AP-CJ-80A學校(xiào)用冷熱(rè)衝擊試(shì)驗箱

    學校(xiào)用(yòng)冷熱(rè)衝擊試驗箱用於(yú)半(bàn)導體、電子電器零組件、化(huà)學材料、金屬(shǔ)材料、自動化零部件、通訊(xùn)組件(jiàn)、國防工業、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物(wù)理變(biàn)化的理想(xiǎng)測試設備。

    更新時(shí)間:2024-03-15
    3AP-CJ-80A上下(xià)移(yí)動的溫度衝擊試驗箱

    上下(xià)移動的溫(wēn)度(dù)衝擊試驗箱適用(yòng)於半導體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自(zì)動化(huà)零部(bù)件、通訊組件、國防工業、航天工(gōng)業、BGA、PCB基板、電子芯片(piàn)IC、及高分子材(cái)料之物理變化的理想測(cè)試(shì)設備。

    更新時(shí)間:2024-03-15
    3AP-CJ-80A球墨鑄鐵底溫(wēn)衝擊(jī)實驗裝置

    球墨鑄(zhù)鐵底溫衝擊實驗裝置適(shì)用於半導體、電(diàn)子電器零(líng)組件、化學材料(liào)、金屬材料、自動化零部(bù)件(jiàn)、通訊組件、國(guó)防工業、航天工(gōng)業、BGA、PCB基(jī)板、電子芯片IC、及高分子(zǐ)材料之(zhī)物(wù)理變化的理(lǐ)想測(cè)試(shì)設備。

    更新時間:2024-03-15
    3AP-CJ-150C高溫冷熱衝擊試驗(yàn)設備

    高溫冷熱衝擊試驗設(shè)備適用於半導體(tǐ)、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料(liào)、自動(dòng)化零部件(jiàn)、通訊(xùn)組件、國防工(gōng)業、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片(piàn)IC、及高分子(zǐ)材料之物理變化(huà)的理想測試設備。

    更新時間:2024-03-12
    3AP-CJ-150C408L冷熱衝擊試驗箱(xiāng)

    408L冷熱衝擊(jī)試驗箱適用於(yú)半導體、電(diàn)子電器零組件(jiàn)、化學材料、金(jīn)屬材(cái)料、自動化(huà)零(líng)部件、通(tōng)訊組件(jiàn)、國(guó)防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分(fèn)子(zǐ)材料之物理變化的理想(xiǎng)測試(shì)設備(bèi)。

    更新時間(jiān):2024-03-11
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